1. Force microscopy
المؤلف: / edited by Bhanu P. Jena, J.K. Heinrich Heorber
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Medical electronics,Scanning force microscopy,Scanning probe microscopy,Nanotechnology,Microscopy- Atomic Force,Electronics, Medical,Nanotechnology
رده :
R856
.
A2F675
2006
2. Scanning microscopy for nanotechnology
المؤلف:
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Scanning electron microscopy,Nanotechnology
رده :
QH212
.
S3S35
2007
3. Scanning microscopy for nanotechnology
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Scanning electron microscopy. ; Nanotechnology. ;
4. Scanning microscopy for nanotechnology
المؤلف: / edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Scanning electron microscopy.,Nanotechnology.
5. Scanning microscopy for nanotechnology
المؤلف: edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Nanotechnology.,Scanning electron microscopy.
6. Scanning microscopy for nanotechnology. techniques and
المؤلف:
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Scanning electron microscopy,، Nanotechnology
رده :
QH
212
.
S3
S346
2007
7. Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications
المؤلف: edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang
المکتبة: (طهران)
موضوع: ، Scanning electron microscopy,، Nanotechnology
رده :
QH
212
.
S3S28
8. Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications
المؤلف: edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang
المکتبة: (طهران)
موضوع: ، Scanning electron microscopy,، Nanotechnology
رده :
QH
212
.
S3
S346
2007
9. Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications
المؤلف: Zhou, Weili; Wang, Zhong Lin
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، Scanning electron microscopy,، Nanotechnology
رده :
QH
212
S3S346
2007
10. Scanning microscopy for nanotechnology: techniques and applications
المؤلف: edited by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Scanning electron microscopy,، Nanotechnology
رده :
QH
212
.
S3
S346
11. Scanning probe microscopy of functional material
المؤلف: / Sergei V. Kalinin, Alexei Gruverman, editors
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Scanning probe microscopy.,Scanning electron microscopy.,Nanotechnology.
رده :
QH
,
212
,.
S33
,
S397
,
2010
12. Scanning probe microscopy of functional materials
المؤلف: Sergei V. Kalinin, Alexei Gruverman, editors
المکتبة: کتابخانه مرکزی دانشگاه یاسوج (محمد بهمن بیگی) (کهکیلویة و بویرأحمد)
موضوع: Scanning probe microscopy,Scanning electron microscopy,Nanotechnology
رده :
502
,.
82
,
S397
13. Scanning probe microscopy of functional materials
المؤلف: / Sergei V. Kalinin, Alexei Gruverman, editors
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Scanning probe microscopy,Scanning electron microscopy,Nanotechnology
رده :
QH212
.
S33S397
2010
14. Scanning probe microscopy of functional materials
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Scanning probe microscopy. ; Scanning electron microscopy. ; Nanotechnology. ;
